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          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?

          更新時(shí)間:2026-01-16      點(diǎn)擊次數(shù):199

                                                                                                                                   

          盡管大多數(shù)科學(xué)家都清楚地意識(shí)到:將 BET 方法應(yīng)用于微孔吸附劑在本質(zhì)上是錯(cuò)誤的,但我們也必須承認(rèn):即便在我們知道或懷疑材料中存在微孔的情況下,多年來大家仍習(xí)慣性地使用這一流行方法。它之所以廣受歡迎,很可能與其最終給出了一個(gè)“比表面積"這一量值有關(guān)——該量綱通常以 m2 表示,易于理解、想象,也便于在日常情境中與宏觀尺度建立聯(lián)系。

          但既然我們期望科學(xué)不僅僅是滿足想象,那么在微孔材料的情況下繼續(xù)嚴(yán)格而合理地應(yīng)用 BET 方法是否站得住腳?這正是我們接下來要討論的問題。為此,在回顧 BET 方法的基本局限之后,我們將探討:它是否、以及如何仍能對(duì)微孔吸附劑提供可重復(fù)、具有意義且有用的信息。



          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?
          01

          為什么在已知吸附劑為微孔材料時(shí),不直接使用 Langmuir 方程?


          微孔通常呈現(xiàn) IUPAC 分類中的 I 型吸附等溫線,和 Langmuir 等溫線相似,因此看起來很自然也很簡(jiǎn)單:直接對(duì)這些等溫線使用 Langmuir 方程即可。


          然而,這其實(shí)并不合適,原因如下:


          1.Langmuir 方程明確建立在“化學(xué)吸附 + 單層吸附 + 與氣相自由接觸"的特定條件下;而微孔吸附完全不同:

          • 吸附不一定局限于表面位點(diǎn)(可能發(fā)生孔填充);

          • 大多數(shù)吸附相并不與氣相直接接觸。


          2.如果材料是純微孔,其等溫線是完美的 I 型,平臺(tái)區(qū)就直接給出微孔容量,無需額外假設(shè),因此也無需使用 Langmuir 方程。


          3.微孔材料的吸附等溫線通常是復(fù)合型,如:

          • I + II 型(分別由微孔與外表面貢獻(xiàn));

          • I + IV 型(分別由微孔與中孔貢獻(xiàn))。


          而 Langmuir 理論只適用于單一機(jī)理,因此不能用于復(fù)合等溫線。結(jié)果是:計(jì)算得到的“Langmuir 單層容量"并不會(huì)在擬合壓力區(qū)間內(nèi)達(dá)到飽和,而是在更高壓力下才能完成,顯示其理論不一致性。


          因此,我們得出結(jié)論:詮釋微孔材料的吸附等溫線需要比 Langmuir 方程更恰當(dāng)?shù)姆椒āD敲?BET 方程是否是一個(gè)好的選擇?


          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?
          02

          為什么 BET 方法在微孔材料中也受到限制?


          BET 方法本質(zhì)上是一種數(shù)學(xué)分析技術(shù),用于根據(jù)等溫線推算“單層容量"和比表面積。其理論依賴多個(gè)假設(shè),主要包括(簡(jiǎn)述):


          1. 表面均勻,各分子在第一層的吸附能相同

          2. 每一層的吸附分子都可作為下一層的吸附位點(diǎn)

          3. 多層吸附的厚度無空間限制

          4. 僅第一層的吸附能 E? 高于液化能 EL

          5. 同一層內(nèi)分子間相互作用忽略不計(jì)

          6. 第二層及以上從第一層未飽和時(shí)就開始生長(zhǎng)

            隨后在計(jì)算表面積時(shí)還需假設(shè):

          7. 單層分子覆蓋面積 σ 相同

          8. 分子排列為六方致密堆積

          9. 單分子面積 σ 來自該吸附質(zhì)液態(tài)的密度


          然而,對(duì)于微孔(以及一般多孔)材料:


          • 假設(shè) 1、2 幾乎從不成立;

          • 假設(shè) 3 對(duì)多孔材料明顯不成立;

          • 假設(shè) 4 可視為近似;

          • 假設(shè) 5 錯(cuò)誤;

          • 假設(shè) 6 通常成立,但對(duì)超微孔也例外。

          • 假設(shè) 7-9 在存在微孔時(shí)同樣不可靠。


          因此,有必要重新討論 BET 方法在微孔材料中的意義。


          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?
          03

          BET 單層容量在微孔材料中是否可重復(fù)?


          即使實(shí)驗(yàn)精度已不再是問題(現(xiàn)代儀器精確且脫氣穩(wěn)定),


          同一可靠等溫線仍可能給出多個(gè) BET 單層容量值


          原因是 BET 方程須擬合 BET 圖線的線性區(qū),但圖中的多個(gè)區(qū)段可能看起來都很線性,選擇具有主觀性。


          Brunauer 曾建議統(tǒng)一使用 0.05–0.35 的相對(duì)壓力區(qū)間,這對(duì) II 型或 IV 型(無強(qiáng)吸附或無微孔)較合適,但對(duì)于含微孔材料,這一范圍遠(yuǎn)超實(shí)際線性區(qū)范圍


          例如文中圖 1(Ar/13X @87K)中:

          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?

          圖一:氬氣在13X沸石上(87K下)的BET作圖;na( po-p)隨p/po的變化關(guān)系圖


          不同選擇的線性區(qū)產(chǎn)生的單層容量差異達(dá) 30%。


          因此需額外的“客觀選擇"標(biāo)準(zhǔn):


          BET 圖線區(qū)間選擇的兩個(gè)客觀標(biāo)準(zhǔn)


          1.截距必須為正(C>0),否則無物理意義。

          →可排除部分區(qū)間。

          2.n?(p°?p) 必須隨 p/p° 單調(diào)上升,否則區(qū)間過寬。

          →進(jìn)一步排除更高壓力的區(qū)間。


          應(yīng)用這兩條后,得到唯一合理的線性段,從而得到更一致的 BET 單層容量。


          此外,我們還始終應(yīng)用以下兩個(gè)額外自洽性檢查,并且從未見過它們失敗:


          1. 將計(jì)算得到的 BET 單層容量標(biāo)示在吸附等溫線上,其對(duì)應(yīng)的相對(duì)壓力 p/p°? 應(yīng)位于用于 BET 擬合的壓力區(qū)間之內(nèi).

          2. 另一種方式是:利用計(jì)算得到的 C 值,在 BET 方程中設(shè)定 n? = n??,重新計(jì)算 p/p°?


          重新計(jì)算的 p/p°? 應(yīng)與實(shí)驗(yàn)等溫線上閱讀得到的值相差不超過約 10%。


          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?
          04

          BET 假設(shè)能否由量熱實(shí)驗(yàn)支持?


          量熱實(shí)驗(yàn)證明:


          • 在能量均一的表面(如石墨化碳)上,分子–分子相互作用不可忽略;

          • 在一般的氧化物表面上,表面能量常具異質(zhì)性;


          但二者部分抵消,使得 BET 假設(shè)在實(shí)踐中“勉強(qiáng)可用"。


          在微孔材料中,量熱曲線顯示:BET 所得“單層容量"恰對(duì)應(yīng)吸附質(zhì)與表面之間最強(qiáng)能量作用的區(qū)段


          這是關(guān)鍵觀察。


          文中展示了 4 個(gè)示例(Silicalite、ZSM-48、微孔炭、微孔硅):


           1:77 K 下甲烷在 Silicalite 上的吸附


          如后續(xù)圖形一樣,吸附等溫線從左下角開始,其初始陡峭部分與縱軸幾乎重合。量熱曲線從右下角開始,使用同一縱坐標(biāo)(對(duì)應(yīng)吸附量),而吸附微分焓標(biāo)注在圖上方。需要首先注意的是:在大部分吸附范圍內(nèi),吸附焓始終維持在一個(gè)高且恒定的值:–17 kJ·mol?1,超過液化焓的兩倍。雖然數(shù)值恒定,但并不支持 BET 假設(shè)中的“第一層吸附能量恒定",因?yàn)?Silicalite 是典型的微孔材料,這里觀察到的并不是單分子層的鋪展,而是微孔容積的填充。由于大部分孔填充(最高至約 4 mmol·g?1)都發(fā)生在低于 10?2 mbar 的壓力下,因此只有直接量熱法能給出可靠的吸附焓;而等量線法(isosteric method)在此完全不可靠,因?yàn)樗軌毫φ`差或微量雜質(zhì)(如 N? 或 O?)的影響極大。我們還注意到,這兩條曲線呈現(xiàn)出顯著的鏡像關(guān)系:在 I 型等溫線進(jìn)入平臺(tái)(微孔填滿)后,吸附焓立即下降。使用前文的 BET 判據(jù)得到的表觀單層容量為 4.2 mmol·g?1,對(duì)應(yīng)等溫線的“拐點(diǎn)(knee)"。量熱曲線顯示,這個(gè)表觀 BET 單層容量恰好對(duì)應(yīng)吸附質(zhì)最強(qiáng)吸附部分


           2:77 K 下甲烷在微米級(jí) ZSM-48 上的吸附


          ZSM-48 的外表面積約 50 m2·g?1,孔徑 5–6 nm。盡管其孔道仍高度有序,但無論是等溫線還是量熱曲線,都與上面例子非常不同。吸附等溫線呈明顯的復(fù)合類型(I 型 + II 型),可歸因于顯著的外表面積——外表面的吸附效應(yīng)與微孔吸附共同作用形成了此種等溫線形態(tài)。


          量熱曲線也比前一個(gè)例子更為復(fù)雜,因?yàn)楝F(xiàn)在可以清楚地區(qū)分出三個(gè)階段:


          • 步驟 1(右下角的初始陡直部分):對(duì)應(yīng)微孔填充,其吸附焓與在 Silicalite 上的情況一樣高。陡直段前的小“尾巴"說明存在少量缺陷或異質(zhì)性,這些在 Silicalite 中并未觀察到(很可能也并不存在)。

          • 步驟 2(從約 12 kJ·mol?1 開始,持續(xù)下降并接近液化焓):對(duì)應(yīng)外表面上統(tǒng)計(jì)單層的形成(即第一層和其上層同時(shí)形成)。

          • 步驟 3(最終的陡直部分,吸附焓為液化焓水平):對(duì)應(yīng)上層吸附(即“多層吸附")的形成。


          在這里,表觀 BET 單層容量(1.9 mmol·g?1)再次恰好對(duì)應(yīng)吸附質(zhì)的最強(qiáng)吸附部分

          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?

          圖二: 77 K 下四種體系的吸附等溫線(綠色,左)與量熱曲線(紅色,右):甲烷在 Silicalite 上(左上)、甲烷在沸石 ZSM-48 上(右上)、氮?dú)庠谖⒖滋忌希ㄗ笙拢┮约皻鍤庠谖⒖坠枘z(Davison 950)(右下)上的吸附行為。


           3:77 K 下氮?dú)庠谖⒖滋忌系奈?/span>


          氮?dú)庠诨钚蕴浚╟harcoal 26)上的吸附呈現(xiàn)出與上例類似的幾個(gè)特征:


          • 等溫線呈 I 型 + II 型復(fù)合;

          • 量熱曲線至少包含兩個(gè)明顯階段。


          但不同之處在于:初始吸附焓的下降更陡峭、范圍更寬,這歸因于活性炭的高異質(zhì)性,同時(shí)氮?dú)夥肿泳哂杏谰盟臉O矩,因此比甲烷分子對(duì)表面異質(zhì)性更敏感。


           4:77 K 下氬在微孔硅膠上的吸附


          等溫線再次呈復(fù)合類型,而吸附焓隨吸附量穩(wěn)步下降,說明材料包含寬分布的微孔,其中一部分是超微孔(與活性炭類似)。


          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?
          05

          最后,在存在微孔時(shí),BET 方程還能具有意義并發(fā)揮作用嗎?


          眾所周知,當(dāng)材料中存在微孔時(shí),“BET 單層容量"這一概念本身并不充分,也沒有明確的物理或理論意義,因?yàn)槲⒖字胁淮嬖谡嬲膯螌咏Y(jié)構(gòu)。


          然而,如果我們希望在微孔材料中依然保留 BET 方程的優(yōu)勢(shì)(前文所述),就必須引入另一個(gè)概念。


          幸運(yùn)的是,量熱實(shí)驗(yàn)提供了一個(gè)啟發(fā): “BET 單層容量"在物理上對(duì)應(yīng)著能量上被強(qiáng)烈吸附(或強(qiáng)烈滯留)的吸附質(zhì)部分。因此,該由 BET 方程給出的量,可以更恰當(dāng)?shù)胤Q為“BET強(qiáng)滯留容量(BET strong retention capacity)"。


          這一容量包含兩部分:


          1.微孔容量;

          2.非微孔表面上的單層容量


          第二部分對(duì)應(yīng)外表面積(external surface area),可通過αs或 t方法輕松確定,并不需要依賴等溫線的超低壓部分。


          其中:若希望對(duì)微孔進(jìn)行更精細(xì)的分析,并且擁有低壓段數(shù)據(jù),則優(yōu)先使用αs方法;


          若只需獲得可靠的外表面積,則t方法更簡(jiǎn)單,只需在軟件中加入適當(dāng)?shù)亩鄬游椒匠蹋?/span> Harkins–Jura t 曲線方程。


          因此,推薦的計(jì)算流程如下:


          1.利用 BET 方程與第 3 節(jié)給出的判據(jù),計(jì)算BET強(qiáng)滯留容量BET方程適用于微孔吸附劑嗎?

          2.利用αs或t方法計(jì)算外表面積aext,并得到對(duì)應(yīng)的外表面單層容量BET方程適用于微孔吸附劑嗎?

          3.計(jì)算微孔容量,即:BET方程適用于微孔吸附劑嗎?


          值得指出的是:微孔容量(針對(duì)特定吸附質(zhì))具有明確物理意義,遠(yuǎn)比“微孔體積"可靠;后者依賴于微孔內(nèi)吸附質(zhì)的未知堆積方式,因此常常不準(zhǔn)確


          4.針對(duì)同一吸附質(zhì),通過最終平臺(tái)(通常在 p/p° ≥ 0.9)上的飽和吸附量確定“飽和容量"(saturation capacity)


          上述四個(gè)量值可以以軟件方式自動(dòng)計(jì)算


          無論是什么吸附劑,若存在微孔,它們均具有明確意義;若不存在微孔,則“微孔容量"自然應(yīng)接近零,僅在這種情況下,“BET 單層容量"這一概念才可以毫無歧義地恢復(fù)使用。


          BET方程適用于微孔吸附劑嗎?
          06

          結(jié)論


          1.BET 方法并非為微孔吸附劑設(shè)計(jì),因此不應(yīng)對(duì)含微孔材料盲目使用(Langmuir 方程更不應(yīng)如此)

          2.除了 BET 圖的線性判據(jù)之外,還需要額外兩個(gè)判據(jù)(尤其在存在微孔時(shí))以發(fā)揮 BET 方程的特定優(yōu)勢(shì),即獲得單一且可重現(xiàn)的“單層容量"值

          3.微孔吸附劑的量熱數(shù)據(jù)表明,按上述判據(jù)算得的 BET 單層容量主要對(duì)應(yīng)與表面存在強(qiáng)能量相互作用的吸附量

          4.對(duì)于含微孔的吸附劑,“BET單層容量"概念是不恰當(dāng)?shù)模商鎿Q為“BET強(qiáng)滯留容量"。該量包含微孔吸附與外表面的統(tǒng)計(jì)單層吸附兩部分

          5.與其使用“不夠可靠的 BET 表面積(對(duì)微孔不適用)"或“微孔體積(受未知堆積結(jié)構(gòu)影響)",更安全、物理意義更明確的量應(yīng)是:

          * BET強(qiáng)滯留容量

          * 外表面積

          * 微孔容量

          * 飽和容量


          這些概念更接近物理現(xiàn)實(shí),因此更適用于可靠的解釋與實(shí)際應(yīng)用。


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          比表面積及孔徑推薦設(shè)備國儀量子比表面及孔徑分析儀Sicope40 介紹:

          • 測(cè)試通量:4站并行測(cè)試

          • 測(cè)試氣體:N2、Ar、CO2、H2等其他非腐蝕性氣體

          • 測(cè)試范圍:比表面積:0.0005 m2/g及以上; 

          • 孔徑:0.35-500 nm孔徑精準(zhǔn)分析; 

          • 總孔體積:0.0001 cc/g及以上

          • 測(cè)試精度:比表面積重復(fù)性(RSD)≤1.0%;最可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02 nm

          • 分壓范圍:10-8~ 0.999

          • 脫氣處理:4站原位脫氣;并配置獨(dú)立樣品預(yù)處理設(shè)備,獨(dú)立6組控溫 

          • 控溫范圍:室溫~400 ℃,控溫精度:±0.1 ℃

          • 分析模型:BET比表面積、Langmuir表面積、t-plot分析、BJH、HK、DR/DA、NLDFT孔徑分布


          參考文獻(xiàn):


          參考文獻(xiàn):

          "Characterization of Porous Solids VII",Studies in Surface Science and Catalysis, Vol 160, P.Llewellyn, F.Rodriguez-Reinoso, J.Rouquerol and N.Seaton Eds.(2007), Elsevier, Amsterdam and Oxford, pp49-56



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